Cabaran ujian untuk peranti semikonduktor generasi ketiga

Tidak ada keterlaluan untuk mengatakan bahawa peranti semikonduktor generasi ketiga telah membawa inovasi kepada industri bekalan kuasa. Berdasarkan kelajuan tinggi, saiz kecil, dan penggunaan kuasa yang rendah, mereka lebih banyak digunakan dalam industri elektronik dan kuasa elektronik pengguna. Mari kita perhatikan perbezaan antara peranti kuasa teknologi yang berbeza. Angka di bawah menunjukkan bahawa IGBT atau MOSFET berasaskan SI tradisional sama ada diedarkan dalam julat voltan tinggi dan berkelajuan rendah, atau dalam julat voltan rendah dan berkelajuan tinggi. Teknologi pengesanan tradisional di pasaran boleh meliputi keperluan ujian untuk pencirian peranti. Walau bagaimanapun, teknologi peranti semikonduktor generasi ketiga sic atau gaN cenderung matang, kerana kelajuan tinggi, voltan bertahan tinggi, rintangan suhu tinggi, saiz kecil, dan penggunaan kuasa yang rendah, ia lebih banyak digunakan dalam produk penukaran kuasa , yang berbeza dengan prestasi tradisional. Walau bagaimanapun, peranti kuasa berasaskan SI telah memperluaskan pelbagai pengedaran, yang meliputi kawasan voltan tinggi dan berkelajuan tinggi yang belum pernah muncul sebelum ini, yang menimbulkan cabaran yang sangat teruk kepada alat ujian peranti.
Tahun ini, peranti SIC dan GAN akan lebih banyak digunakan dalam bidang bekalan kuasa komunikasi 5G, penyongsang tenaga baru dan pemacu kenderaan elektrik dalam infrastruktur baru yang dikeluarkan oleh negara, yang membawa lebih banyak peluang bagi jurutera untuk mereka bentuk produk penukar kuasa . Banyak peluang juga membawa cabaran reka bentuk baru.
Pada masa ini, ramai jurutera menggunakan ciri-ciri pensuisan rendah untuk menilai peranti dan reka bentuk litar memandu dalam reka bentuk litar jambatan. Kerana terdapat rujukan "tanah", nampaknya selagi jalur lebar dan voltan berpuas hati, ia sudah cukup, tetapi sebenarnya, ramai orang mengabaikannya. Malah, pemacu dan ciri-ciri sisi voltan tinggi dan bahagian voltan rendah tidak sama, dan ujian tiub atas tidak dapat dikira dari ujian bawah tiub, tetapi mengapa jurutera tidak benar-benar menguji yang tinggi -Voltage Side VGS? Terutamanya kerana pada masa ini tidak ada probe dan kaedah yang sesuai untuk menguji isyarat pemacu sampingan voltan tinggi yang tepat, ia akan dipengaruhi oleh batasan jalur lebar, batasan nisbah penolakan mod biasa, gangguan isyarat, dan lain-lain, jadi ia hanya boleh dianggarkan dengan spekulasi atau simulasi, yang sangat besar. Setakat tertentu, ketidakpastian reka bentuk produk meningkat, dan terdapat juga risiko keselamatan yang hebat.
APM adalah perusahaan berteknologi tinggi yang mengintegrasikan penyelidikan dan pembangunan bebas, pengeluaran, jualan dan perkhidmatan. Dengan sumber ujian/beban sebagai produk teras, kami menyediakan pelbagai penyelesaian dan perkhidmatan yang komprehensif. Produk digunakan secara meluas dalam aeroangkasa, tenaga baru, elektronik kuasa, pembuatan pintar, penyelidikan saintifik dan pendidikan dan bidang lain yang berkaitan.
Dengan banyak tahun latar belakang teknikal dan pengalaman pengeluaran yang mendalam, ia telah mempromosikan secara komprehensif penyetempatan instrumen ketepatan dan menjualnya secara global dengan jenamanya sendiri. Pada masa yang sama, ia mengekalkan hubungan koperasi strategik jangka panjang dengan pasukan penyelidikan saintifik domestik dan asing, meneroka teknologi canggih dan sempadan aplikasi dalam bidang pengukuran, dan terus mempromosikan lelaran dan inovasi produk, dengan itu secara asasnya memastikan produk dan perkhidmatan berada di dalam kedudukan utama dalam industri. Kami sentiasa mematuhi falsafah perniagaan "profesionalisme, inovasi, jenama dan perkhidmatan", memberikan pelanggan nilai dan perkhidmatan tambah yang lebih tinggi, memberi tumpuan kepada bidang ujian, dan berusaha untuk menjadi penyedia penyelesaian ujian elektronik bertaraf dunia, yang melayani Pelanggan Dunia.