Permohonan siri APM SP-1U/ST dalam fius TES

Fius memainkan peranan pelindung yang sangat penting dalam litar peralatan elektronik. Mereka diklasifikasikan ke dalam pelbagai jenis mengikut persekitaran penggunaannya, seperti sekering guna, fius yang boleh ditetapkan semula, fius terma jenis cip, fius terma filem logam, fius plastik mini, dan fius-proof-proof precision fius dengan pembungkusan yang berbeza. Menurut pelbagai jenis fius, mereka boleh digunakan untuk persekitaran kerja voltan yang tinggi dan rendah.

Pemilihan fius yang betul memainkan peranan yang sangat diperlukan dalam memastikan penggunaan peralatan elektronik dan bekalan kuasa yang selamat. Oleh itu, adalah penting untuk melakukan ujian prestasi yang ketat pada fius.

Berikut adalah sistem ujian fius yang disesuaikan oleh APM untuk pelanggan

Litar ini berfungsi melalui sambungan kabel mudah.

Sistem ujian ini terdiri daripada empat bekalan kuasa dan perisian ujian, seperti yang ditunjukkan dalam gambar, dengan pengujian semasa 100mA hingga 360A. DUT (peranti di bawah ujian) boleh diletakkan pada platform ujian dan kabel dengan mudah dan cepat. Sistem ujian dapat mengukur fius yang diperlukan untuk fius fius, memberikan asas pengukuran yang nyata untuk memilih fius untuk peralatan elektrik. Bergantung pada keperluan ujian, sistem juga boleh mencapai gabungan sumber kuasa dan beban untuk meningkatkan kelajuan arus yang semakin meningkat, ketepatan masa meniup fius, dan ketepatan data ujian.

Output stabil bekalan kuasa yang digabungkan dengan perisian pemantauan ini membolehkan kawalan komunikasi jauh lebih mudah. Empat saluran boleh berjalan secara bebas tanpa menjejaskan satu sama lain, dan sistem boleh memantau voltan masa nyata, nilai pengukuran semasa, masa ujian, status bekalan kuasa, dan status meniup fius. Pelbagai set nilai semasa boleh ditetapkan untuk mencapai output kitaran bentuk gelombang semasa. Data ujian boleh direkodkan di latar belakang mengikut keperluan, termasuk nilai voltan, nilai semasa, status bekalan kuasa, status fius, dan masa penuaan untuk perbandingan data dalam persekitaran ujian yang berbeza.